4)45nm以后,高介电材料(Highk)和金属栅(MetalGate),引入原子层沉积(ALD)设备,膜层达到纳米级别。——(a)高介电材料(Highk)替代SiO2,用于制备MOS器件的栅介质层,需要引入ALD。(b)多晶硅同步地被替代为金属栅(MatalGate)电极,也用ALD设备制备。
4)45nm以后,高介电材料(Highk)和金属栅(MetalGate),引入原子层沉积(ALD)设备,膜层达到纳米级别。——(a)高介电材料(Highk)替代SiO2,用于制备MOS器件的栅介质层,需要引入ALD。(b)多晶硅同步地被替代为金属栅(MatalGate)电极,也用ALD设备制备。